薄膜热电阻是一种重要的温度检测元件，广泛应用于机械、电子、航空、航天、科研等领域。但是，薄膜热电阻在实际应用中仍存在着一些缺点和局限性。以下是薄膜热电阻的缺点：

薄膜热电阻的漂移问题是导致测量降低的重要原因，尤其是在一些高温环境下，漂移更加明显。这是由于薄膜热电阻的温度系数比较大，而在高温环境下，其材料的结构会发生变化，从而导致温度系数发生变化。

虽然薄膜热电阻的比较高，但是其的稳定性仍然存在问题。这是由于随着时间的推移，薄膜热电阻会发生失效，从而导致其降低。

薄膜热电阻的使用范围受到一定的限制。例如，在需要测量高温的场合，由于薄膜热电阻的材料限制，其测量范围受到限制，不适合使用于超过其材料能承受的温度的场合。

薄膜热电阻的灵敏度比一些其他温度检测元件要低，在温度变化较小的情况下可能无法进行准确的测量。

总之，薄膜热电阻虽然具有高、响应快、构造简单等优点，但在实际应用中也存在一些问题和局限性。因此，在选择温度检测元件的时候应该充分考虑其应用环境、测量要求等因素，综合考虑选择合适的温度检测元件。